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TSL-532-52-105Q 532-nm-Grün-F-Theta-Scanobjektiv mit 52 × 52 mm Scanfeld und 105 mm Brennweite
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Langwellige athermische Linsen 35 mm Brennweite F#1.0 17 µm
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Präzisions-Telezentrische F-Theta-Scanlinse für 355-nm-UV-Lasermarkierung – Quarzglas-Scanlinse für hochauflösende Gravur
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Langwellige Infrarot-Objektivbaugruppe 70 mm Brennweite
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Hochreflektierende dielektrische HR-Beschichtung (350–400 nm, 400–750 nm), Breitbandbeschichtungen, dielektrische Laserspiegel
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AFM-Sondenanwendung: Schmalbandfilter 488 nm, Langpass-/Kurzpassfilter 532 nm, Kerbfilter
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Hochwertiger Kupferspiegel für die optische Bearbeitung
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Hochwertiger industrieller Fluoreszenz-Optikfilter aus Floatglas, Wellenlängenbereich 240–1550 nm
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IBS-Hartbeschichtung, schmalbandiger optischer Filter (488 nm, 532 nm, 1064 nm) für AFM-Sonde, Laser, maschinelles Sehen und biochemische Detektion
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UV-Objektiv für Ultraviolett-Band-Bildgebung
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SWIR-Infrarotobjektiv mit festem Fokus
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MWIR-Infrarotobjektiv mit festem Fokus