Produktempfehlung | Achromatische F-Theta-Linse mit drei Wellenlängen
Standard-Laserscan-Objektive sind typischerweise für eine einzelne Wellenlänge ausgelegt – der Wechsel zu einem anderen Laser führt zu Fokusverschiebungen, unscharfen Punkten und unscharfen Markierungen. Dualband-Scan-Objektive können chromatische Aberrationen nur zwischen zwei Wellenlängen korrigieren.
Die achromatische 3-Wellenlängen-Scanlinse ist eine spezielle Scanfokuslinse, die chromatische Aberrationen für drei verschiedene Laserwellenlängen gleichzeitig eliminiert. Alle drei Wellenlängen nutzen denselben optischen Aufbau; zum Umschalten zwischen den Prozessen muss lediglich die Laserquelle gewechselt werden, ohne dass die Linse demontiert oder neu fokussiert werden muss. Dadurch eignet sie sich ideal für Mehrprozess-Verbundwerkstoffsysteme.
Die am häufigsten verwendete industrielle Wellenlängenkombination: 355 nm (UV), 532 nm (grün) und 1064 nm (IR).
Kernvorteile der optischen Leistung
1. Parfokale Drei-Wellenlängen-Ausrichtung mit gleichbleibender Spotqualität
Gleichzeitige Korrektur chromatischer Aberrationen für 355/532/1064 nm (oder benutzerdefinierte RGB-, UV-VIS-SWIR-Bandkombinationen). Die Fokusebenen aller drei Wellenlängen fallen zusammen, wodurch eine gleichmäßige Punktrundheit über das gesamte Scanfeld ohne axiale Defokussierung oder chromatische Verzerrung an den Rändern gewährleistet wird.
2. Hohe Präzision bei der Verarbeitung von Verbundwerkstoffen mit minimalem Positionierungsfehler
Neben chromatischer Aberration werden auch Bildfeldwölbung, Verzeichnung, sphärische Aberration und Koma optimiert. Die hohe lineare f-Theta-Abtastgenauigkeit ermöglicht die Wellenlängenauswahl entsprechend den spezifischen Anforderungen des Werkstücks. Die Mehrwellenlängen-Verbundbearbeitung von Teilen verbessert die Gesamtbearbeitungsgenauigkeit deutlich.
3. Geringe Bildfeldwölbung und hervorragende Gleichmäßigkeit des Lichtflecks über das gesamte Bildfeld
Anwendungsszenarien
343 nm zum Entfernen organischer Materialien wie Fotolack; 515 nm zum Entfernen von Metall oder Polysilizium aus Passivierungsschichten; und 1030 nm zum Entfernen von ITO aus Passivierungsschichten. Ideal für Reparatur- und Inspektionsanwendungen an Bildschirmen.
Produktparameter：
| Wellenlänge | 1030 nm, 515 nm und 343 nm |
| Eingangsstrahldurchmesser | 10 mm |
| Effektive Brennweite (EFL) | 250 mm |
| Fokuspunktgröße | 46,94–46,97 μm bei 1030 nm, 23,62–23,76 μm bei 515 nm, 15,69–16,37 μm bei 343 nm |
| Scanfeld | 17×17 mm |
| Arbeitsabstand (WD) | 224,5 mm |
| Gesamtlänge der Linse | 46 mm |
| Linsenaußendurchmesser | Φ82mm |
| Feldkrümmung | <0,1 mm |
| Verzerrung | <0,1 % |
Individuelle Designs sind je nach Bedarf möglich.
Veröffentlichungsdatum: 08.07.2026